帶寬 | 差分電壓 | 共模電壓 | 共模抑制比 |
高達 1 GHz | 高達 ±2500 V | 60 kV | 高達 160 dB (100,000,000:1) |
型號 | 帶寬 | 差分電壓 | 共模電壓 | 共模抑制比 | 光纖電纜長度 | 報價 |
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TIVP02 | 200 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $10,600 配置和報價 |
TIVP02L | 200 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $15,200 配置和報價 |
TIVP05 | 500 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $20,000 配置和報價 |
TIVP05L | 500 MHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $24,100 配置和報價 |
TIVP1 | 1 GHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 2 meters | US $29,000 配置和報價 |
TIVP1L | 1 GHz | ±2500 V | ±60 kV | DC: 160dB 100 MHz: 100 dB 200 MHz: 100 dB | 10 meters | US $33,100 配置和報價 |
價格:價格如有變更,恕不另行通知。
主要指標 | Tektronix TIVP(帶 TIVPMX50X 端部*) | Tektronix TIVH(帶 MMCX250X 端部*) 不再可訂購 | Tektronix THDP0200 |
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應用 | 高壓測 VGS,高端 VDS, 寬禁帶(GaN 和 SiC)檢定,SMPS 優化,溫度測試(使用 SMA 電纜) | 高壓測 VGS, 寬禁帶(GaN 和 SiC)檢定,SMPS 優化 | 通用, 基于 Si 和 IGBT 的電力電子設備 |
帶寬 | 200 MHz,500 MHz,1 GHz | 200 MHz,500 MHz,800 MHz | 160 MHz,200 MHz |
上升時間 | 450ps,850ps,2ns | 450ps,850ps,2ns | 1.75ns |
CMRR @DC | 150 dB | 150 dB | 80 dB |
CMRR @100 MHz | 100 dB | 85 dB | 26 dB |
差分 電壓范圍 | 通過可變增益調節 高達 3.3kV | 通過端部衰減調節 高達 2.5kV | 150V,1500V |
共模電壓范圍 | ±60kV | ±60kV | ±1500V |
偏置電壓范圍 | ±250V* | ±250V* | 50X 示波器輸入偏置范圍 ±50V(典型值) |
電壓降額 | 25 MHz以內全量程,800 MHz 時為 20V* | 25 MHz以內全量程,800 MHz 時為 20V* | 1 MHz以內全量程, 100 MHz 時為 25V |
輸入阻抗 | 10 MΩ || 3 pF * | 10 M? || 2 pF | 10 M? || 2 pF |
工作溫度范圍 | 0°C 至 50°C(傳感器頭) | 0°C 至 70°C(傳感器頭) | 0°C 至 40°C |
示波器兼容性 | 僅限 4/5/6 系列 MSO | 所有 TekVPI 示波器 (包括 4/5/6 系列 MSO) | 所有 TekVPI 示波器 (包括 4/5/6 系列 MSO) |
*出于比較目的選定最接近 THDP0200 的值
測量系統可用于以下泰克示波器。需要使用示波器1.28軟件版本或更高版本。
應用案例:
電源上的浮動測量
在半橋功率轉換器中進行高壓測信號測量具有挑戰性,因為參考測量的源端或集端會快速上下震蕩。SiC 和 GaN FET 等寬禁帶器件甚至更難測量,因其可以在幾納秒內切換到高電壓??焖僮兓墓材k妷核a生的噪聲會泄漏到差分測量中,并隱藏 VGS 和 VDS 的真實情況。IsoVu 探頭具有無與倫比的全帶寬共模抑制性能,通常一次即可讓信號的真實情況一覽無余。

通過分流電阻測量電流
通過測量分流電阻兩端的差分電壓可輕松獲得準確的電流測量值。但由于受到共模電壓的影響,這會是非常嚴峻的挑戰。IsoVu 憑借其高共模電壓量程和高共模抑制能力,能完成其他產品不能完成的測試。

調試 ESD 問題
如果超出功能測試范圍來解決 ESD 故障根本原因,可能會不盡如人意。使用傳統電探頭時,即使示波器位于法拉第籠外,ESD 放電也會耦合到探頭中并沿電纜向下傳播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表測試點實際發生的情況。但受益于光學隔離技術,IsoVu 第 2 代探頭可以防止耦合,并且可以在 ESD 和 EFT 測試期間提供更準確的 DUT行為,而不僅僅是簡單的系統測試。
